平成23年度秋期 問23 / 80

平成23年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問23

LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)破壊の説明として,適切なものはどれか。

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正解:ウ

ESD(Electrostatic Discharge)は静電気放電のことです。人体や機器に帯電した静電気がLSIの端子に放電されると,高い電圧によって絶縁膜や素子が破壊されることがあり,これをESD破壊といいます。

  • ア: 機械的な力によって,配線が切断される
    誤り。機械的ストレスによる断線の説明で,ESD破壊ではありません。

  • イ: 寄生サイリスタの導通によって,素子が破壊される
    誤り。ラッチアップの説明です。

  • ウ: 静電気放電によって,半導体素子が破壊される
    正しい。ESD破壊の説明です。

  • エ: 電流が過度に流れることによって,配線が切断される
    誤り。エレクトロマイグレーションや過電流による溶断の説明です。


答え

ウ: 静電気放電によって,半導体素子が破壊されてしまう現象

出典:平成23年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問23

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